S rozvojem bezuhlíkových technologií, jako jsou fotovoltaické systémy, nabíjecí stanice pro elektromobily nebo chytré domácnosti, roste i poptávka po nových typech nízkonapěťových jističů. Tyto přístroje musí být nejen výkonné a spolehlivé, ale také schopné komunikace v rámci chytrých sítí. Vývoj takových zařízení je zpomalen nutností absolvovat náročné dielektrické testy po zkratových zkouškách – testy, které zatím nelze spolehlivě předpovědět pomocí simulací.
Projekt predikce dielektrické odolnosti nízkonapěťových jističů si klade za cíl tuto překážku překonat. Výzkumný tým se zaměří na vývoj nových modelovacích nástrojů, které umožní nejen simulaci spínacího oblouku při zkratu, ale také jeho vlivu na povrchovou vodivost uvnitř jističe. Díky tomu bude možné předem odhadnout, zda přístroj projde dielektrickým testem – a tím výrazně zrychlit celý vývojový proces.
Na tomto novém výzkumném projektu spolupracuje interdisciplinární tým složený z odborníků z akademické sféry i průmyslu. Z výzkumné skupiny Diagnostika a modelování plazmatu Ústavu fyziky a technologií plazmatu PřF MU a centra CEPLANT se na výzkumu podílí Mgr. Zdeněk Bonaventura, Ph.D., doc. Mgr. Pavel Dvořák, Ph.D., RNDr. Monika Stupavská, Ph.D., Mgr. Jana Jurmanová a Mgr. Peter Burda (na snímku), který se k týmu připojil jako doktorand. Dalším akademickým partnerem je Vysoké učení technické v Brně (VUT) v čele s Ing. Jiřím Valentou, Ph.D. Průmyslovým partnerem projektu je společnost Eaton Elektrotechnika s.r.o., dlouhodobý výzkumný partner výzkumné skupiny Diagnostika a modelování plazmatu. Řešitelem za společnost Eaton Elektrotechnika s.r.o. je RNDr. Stanislavem Kadlecem, CSc.
Projekt má potenciál změnit způsob, jakým se navrhují a testují jističe nové generace. Díky propojení pokročilého modelování s experimentální validací by bylo možné vyvíjet přístroje rychleji, efektivněji a s vyšší mírou spolehlivosti.
