Aktivity našeho výzkumu jsou zaměřeny na rengenovou analýzu krystalických i nekrystalických materiálů různými technikami rentgenového rozptylu a zobrazovacími metodami. Dříve naše laboratoře studovaly především monokrystaly, práškové vzorky a polovodičové materiály pomocí metod rtg difrakce a topografie. Později v 80. letech jsme rekonstruovali difraktometry pomocí soudobých 8bitových počítačů, čímž jsme získali jedny z prvních počítačově řízených difraktometrů na světě. Psaním vlastního vyhodnocovacího softwaru jsme získali mnoho zkušeností, jak přenést teorii do praxe. V současné době provozujeme jak námi vytvořené a optimalizované difraktometry, tak i nové moderní komerční difraktometry. Proto pro nás není problémem vyladit tyto difraktometry pro specifické účely, napsat vlastní programy pro simulaci a analýzu dat tak, abychom dosáhli co nejvíce informací o studovaných vzorcích.
Máme též dlouholetou zkušenost s měřením na synchrotronech metodami rentgenového rozptylu, rentgenové spektroskopie a zobrazovacími technikami. Experiment jsme již prováděli na většině evropských synchrotronů (ESRF, BESSY, Diamond, Elettra, Solaris, apod.).
Výzkumná témata
Máme dlouholeté zkušenosti s širokým spektrem rentgenových metod:
- rtg difrakce (XRD),
- rtg topografie,
- rtg reflektometrie (XRR),
- maloúhlový rozptyl (SAXS, GISAXS),
- rtg zobrazovací metody.
Tyto metody vyvíjíme a aplikujeme pro studium různých typů vzorků. Zde jsou některé příklady:
- Dokonalost a homogennost struktury krystalů (křemík, křemíkové desky, polovodičové vzorky, apod.).
- Defekty v krystalech (křemíkové a polovodičové desky, např. GaN, SiC, GaAs; topologické izolátory; apod.).
- Tloušťka vrstev a drsnost rozhraní (multivrstvy a supermřížky, amorfní i krystalické vzorky).
- Tvar a rozložení malých částic a nanočástic (kvantové dráty a tečky, biomolekuly, apod.).
- Nabízíme též zkušenosti s in-situ studiem změn strukturní morfologie během žíhání, chlazení či aplikovaného vnějšího magnetického pole.